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JPS-9030 X射线光电子能谱仪

X射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素,可以提供有关固体表面和界面的化学信息(元素种类、相对含量及价态信息)。此外,通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息,主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

JPS-9200 X射线光电子能谱仪

X射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素,可以提供有关固体表面和界面的化学信息(元素种类、相对含量及价态信息)。此外,通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息,主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。